Projekt zur Einhaltung der Norm IEC 60335 für NXP Semiconductors erfolgreich durchgeführt.

Hierbei ging es um die Entwicklung einer Softwarebibliothek inkl.  Testdurchführung, Dokumentation und allen Schritten zur Erlangung der Vorab-Zertifizierung. Dadurch kann NXP eine Testbibliothek gemäß IEC 60335 Klasse B für die gesamte ARM Cortex-M3-basierte LPC1000-Mikrocontrollerfamilie zur Verfügung stellen. Diese Bibliothek wurde vom VDE (Verband der Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik e.V.) geprüft und ermöglicht eine Endprodukt-Abnahme ohne vollständig neue Prüfung der Applikation durch den VDE. Die erforderliche Entwicklungsarbeit, die Testdurchführung und die Zertifizierungsschritte wurden vollständig von Hitex durchgeführt.

“Wir freuen uns sehr, dass wir mit Hitex als Experten auf dem Gebiet der Embedded Entwicklung arbeiten können,” sagte Geoff Lees, Vice President and General Manager, Microcontroller Product Line, NXP Semiconductors. “Durch diese Kooperation ist es uns möglich, unseren Kunden eine IEC 60335 Klasse B Testbibliothek zur Verfügung zu stellen, wodurch sich die Time-to-Market für Haushaltsgeräte und andere sicherheitskritische Applikationen mit dem Einsatz unserer Cortex-M3 LPC1000-Mikrocontrollerfamilie verkürzen lässt.”

Mit der Abwicklung dieses Projekts für NXP konnte Hitex seine Kompetenz für eine rasche Testdurchführung in Übereinstimmung mit Standards und Normen untermauern. Diese Dienstleistung bietet Hitex auch für Entwickler von Klasse-B-Produkten an, um eine Zertifizierung der Produkte zu erreichen.