DeviceScan

Oftmals muss ein Entwickler die Ursache für einen Systemfehler herausfinden: ein defekter Mikrocontroller oder etwas anderes? Für solche Fälle haben wir (den) DeviceScan entwickelt, ein Gerät, das auf den Chip-Test bereits integrierter Bauteile spezialisiert ist. Und auch wenn der Controller schon auf dem Board aufgelötet ist, DeviceScan kann diesen als Fehlerursache in einer Applikation erkennen.

Das Funktionsprinzip des DeviceScan macht sich den Single-Scan-Chain Modus (SSCM) des Prozessors zunutze. Dieser Modus wendet die gleichen Teststrukturen an, die auch bei "internen Strukturtests" in der Serienfertigung via JTAG-Schnittstelle Anwendung finden.

Basierend auf der Tantino-Hardware gelingt es dem DeviceScan, Testvektoren zu verwalten, Testabläufe zu kontrollieren und deren Ergebnisse zu analysieren. Damit wird es möglich, sehr komplexe Controller wie beispielsweise den TriCore 1766 in ca. 2 Minuten mit 95 % Testabdeckung zu überprüfen.

DeviceScan ist zunächst für die folgenden Architekturen erhältlich:

• XC2000
• TC1766

Lieferumfang DeviceScan:

• DeviceScan
• Kommunikationskabel (USB)
• DeviceScan Testsoftware (CD-ROM mit elektronischer Dokumentation)