Sehr geehrte Damen und Herren,

kürzlich war ja wieder “May the 4th”, der internationale Feiertag der Star-Wars-Fangemeinde. Das legendäre Star-Wars-Zitat „May the force be with you!” (deutsch: Möge die Macht mit dir sein!) klingt nämlich ähnlich wie „May the 4th be with you!“. Deshalb haben sich die Fans dieses Datum tatsächlich zu eigen gemacht. Allerdings soll der Kultsatz durch diesen Gleichklang schon zu peinlichen Übersetzungsfehlern geführt haben – angeblich auch im deutschen Fernsehen: Ein Simultan-Dolmetscher hat während eines Interviews den berühmten Leitspruch wirklich übersetzt mit „Am 4. Mai sehen wir uns wieder!“. So kann’s gehen, wenn das nötige Hintergrundwissen fehlt.

Auch in anderen Bereichen können sich ohne Fachkompetenz schnell Fehler einschleichen, und wenn es um Funktionale Sicherheit geht, sind die Folgen meist gravierender. Auch mit Experten-Know-how muss aber nicht alles selbst erfunden werden. Um Prozesse zu optimieren und den Aufwand gering zu halten, sollte man auf erprobte Komponenten und Tools zurückgreifen. Und falls die eigene Safety-Kompetenz nicht ausreicht, hilft Hitex als kompetenter Consulting-Partner gerne weiter.

Hitex bringt Safety sicher ins Design – mit verlässlichen Werkzeugen und Komponenten oder mit maßgeschneiderter Dienstleistung!

Mit dem “embedded award 2019” ausgezeichnet SafeTpack für Funktionale Sicherheit SafeTpack ist eine umfassende Sicherheitslösung für die AURIX™ TC3xx-Architektur von Infineon. SafeTpack erleichtert die Umsetzung von Safety-Anforderungen und ermöglicht einen schnellen und unkomplizierten Weg zur ISO-26262- oder IEC-61508-Zertifizierung. Hierzu steuert SafeTpack die komplexen LBIST (Logic Built-In Self-Tests) sowie andere Sicherheitsfeatures von AURIX und stellt zusätzliche Safety-Funktionen zur Verfügung. » Mehr Informationen

 

Robustheitstests durch Fuzzing beSTORM deckt Security-Risiken auf Mit Robustheitstests lässt sich überprüfen, ob ein Objekt bei außergewöhnlichen Eingaben sinnvoll reagiert. Das Werkzeug beSTORM bedient sich hierzu der Testmethode „Fuzzing“, bei der zufällig erzeugte Daten an das Testobjekt geschickt werden, um Fehlverhalten zu provozieren. beSTORM unterstützt eine große Zahl von Protokollen, beispielsweise CAN, USB, Bluetooth-Protokolle, Internet-Protokolle wie HTTP, aber auch Dateiformate wie Word oder JPEG. beSTORM kann auch auf proprietäre Protokolle erweitert werden. » Mehr Informationen

 

Fehler im Programmcode schnell und sicher auffinden ECLAIR: Plattform für statische Code-Analyse Statische Code-Analyse gilt als wichtige Methode, um Schwachstellen im Programmcode zu identifizieren, ist jedoch zeitintensiv, wenn sie manuell durchgeführt wird. Abhilfe schafft ein leistungsfähiges Werkzeug: Das statische Analysetool ECLAIR prüft Kodierregeln, sucht Laufzeitfehler und berechnet Metriken – und liefert rasch vollständige und genaue Resultate. » Mehr Informationen

 

Ausfallsicherer Flash Translation Layer SafeFTL für Automotive-NAND-Speicher HCC gab bekannt, dass sein ausfallsicherer Flash Translation Layer (SafeFTL) für das gesamte Spektrum Automotive-tauglicher SPI NAND-Flash-Speicher von Micron Technology geprüft und verifiziert wurde. Automobil-Designer, die SPI NAND-Flash-Speicher von Micron in Automotive-Systeme integrieren, können SafeFTL von HCC somit nutzen, um die zuverlässige Speicherung von Daten im NAND-Flash-Speicher zu gewährleisten. » Mehr Informationen

 

Arm Guide zum Download Embedded Machine Learning Design for Dummies In diesem englischsprachigen Guide erläutert Arm, wie Sie Machine Learning erfolgreich in Ihr Embedded Design integrieren. Das E-Book vermittelt die Basics und führt Sie Schritt für Schritt durch jede Entwicklungsphase – von der frühen Strategie und Planung bis hin zur Hardware- und Softwarekonfiguration. » Download

 

Kostenlose Webinare – gleich registrieren! 23. Mai 2019, 12:00 Uhr: Webinar "Understanding Serial NOR and NAND Flash in Embedded Designs", durchgeführt von unserem Partner HCC Embedded 28. Mai 2019, 9:00 Uhr: Webinar "Unit testing for safety-critical applications" mit unserem Softwaretest-Experten Frank Büchner 29. Mai 2019, 11:00 Uhr: Webinar "Arm microcontrollers – Advanced debug features and how to use them" mit unserem Cortex-Experten Trevor Martin (Hitex UK)

 

Treffen Sie uns vor Ort Embedded Testing 2. - 4. Juli 2019 in München Wir stellen unsere Lösungen vor und sind mit einem Vortrag von Frank Büchner am 3. Juli zum Thema Fuzzing vertreten. Forum Safety & Security 8. - 10. Juli 2019 in Sindelfingen Wir sind als Aussteller dabei und mit einem Vortrag von Frank Büchner am 10. Juli. Besuchen Sie uns vor Ort – als unser Kunde erhalten Sie 10 % Rabatt, wenn Sie sich mit Code FSSSC2019 anmelden.