Neues aus der Embedded World

Screenshot E-Paper der Elektronik 12/2024

Blinde Flecken im Code aufspüren

Wo Code-Coverage-Messung nicht ausreicht, ist die Antwort die Code-Access-Analyse. Ein Artikel von Frank Büchner, Principal Engineer Software Quality bei Hitex, erschienen im E-Paper der Elektronik 12/2024.

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white paper MISRA C:2023 published

White paper MISRA C:2023 published

25 Jahre nach der ersten Ausgabe der MISRA-Richtlinien sind die MISRA C immer noch die wichtigsten Kodierungsrichtlinien für die Sprache C. Das neueste Hitex-Whitepaper von Frank Büchner, Principal Engineer Software Quality, untersucht die…

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TrustInSoft whitepaper

Whitepaper „Simplifying ISO 26262 Certification with TrustInSoft Analyzer“

Das TrustInSoft Whitepaper "Simplifying ISO 26262 Certification with TrustInSoft Analyzer" enthält Analysen, Fallstudien und praktische Lösungen, die bei der Bereitstellung sicherheitskritischer Software unterstützen.

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[Translate to deutsch:] MISRA

Änderung 3 und 4 zu MISRA

Die Änderungen 3 und 4 zu MISRA C:2012 wurden veröffentlicht, was zu MISRA C:2023 führte. Was sind die Unterschiede zur 1. Revision von MISRA C:2012? Lesen Sie den Artikel von Frank Büchner.

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[Translate to deutsch:] Security & programming guidelines

Security & Programmier-Richtlinien

Security von Software durch Einhaltung der Programmier-Richtlinien.

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[Translate to deutsch:] Automated Mutation Testing

Automated Mutation Testing

Artikel von Frank Büchner auf Englisch zu Embedded Software.

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[Translate to deutsch:] With tool support to security

Mit Werkzeugsupport zur Security

Artikel von Frank Büchner in der Elektronik. Hier können Sie den vollständigen Artikel lesen.

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[Translate to deutsch:] Software-Unit-Verifikation with IEC 62304

Software-Unit-Verifikation in IEC 62304

Artikel von Frank Büchner in MEDengineering. Den vollständigen Artikel kostenlos lesen.

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[Translate to deutsch:] Fault Injection, Robustness Testing, and Code Mutation Testing

Fault, Robustness und Mutations

Fault Injection, Robustness Testing und Code Mutations in der ISO 26262.

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[Translate to deutsch:] BARR specifications as a guideline

BARR-Vorgaben als Richtlinien

Artikel von Frank Büchner in der ElektronikPraxis 18/2021 zu BARR-Vorgaben als Richtlinien für den Programmierstil.

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[Translate to deutsch:] Improve test case quality with mutation testing

Testfallqualität und Mutationstests

Lesen Sie einen neuen Artikel von Frank Büchner darüber, wie Mutationstests die Qualität Ihrer Testfälle bewerten.

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[Translate to deutsch:] Automated testing of embedded software

Automatisiertes Testen von Software

Frank Büchner erklärt, wie man die Testfallgüte problemlos prüfen kann.

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[Translate to deutsch:] Digital marketing at Hitex

Persönlicher Kontakt ist entscheidend

Stimmen Sie zu? Roland Bickel, Head of Marketing bei Hitex, im Interview mit "Elektronik Praxis".

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[Translate to deutsch:] program style

Weniger Fehler & Programmierstil

Artikel zum Thema Programmierstil und Standards. Lesen Sie hier den vollständigen Artikel.

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[Translate to deutsch:] Structural Coverage Analysis

Strukturüberdeckungsanalyse

Fachartikel von Frank Büchner. Veröffentlichung: Elektronik automotive 10/2020.

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[Translate to deutsch:] acceptance criteria

Prüfung von Akzeptanzkriterien

Frank Büchner hat einen Artikel für MED engineering verfasst. Hier können Sie ihn lesen.

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[Translate to deutsch:] ISO 13849 and ISO 26262

ISO 13849 and ISO 26262

Fachartikel von Nicolas Nahrstedt. Veröffentlicht in Design&Elektronik 7/2020.

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[Translate to deutsch:] code coverage

Irrtümer über Code-Coverage

Fachartikel von Frank Büchner. Veröffentlichung in PraxisElektronik.

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[Translate to deutsch:] software unit with IEC 62304

Software unit verification in IEC 62304

Fachartikel von Frank Büchner. Veröffentlichung: meditronic-journal 3/2019.

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[Translate to deutsch:] test cases

Sind Ihre Testfälle gut genug?

Was Testfallgüte für die Fehlerfindung bedeutet. Veröffentlichung: Elektronikpraxis 4/2019.

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[Translate to deutsch:] Safety goals

Sicherheitsziele leichter erreichen

Artikel von Björn Assmann, Dr. Kurt Böhringer, David Nicholls. Veröffentlichung auf all-electronics.de

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[Translate to deutsch:] complexity

Was steckt hinter zyklomatischer Komplexität?

Fachartikel von Frank Büchner. Veröffentlichung auf industr.com

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[Translate to deutsch:]  robust code

Wie robust ist mein Code?

Fachartikel von Frank Büchner. Veröffentlichung auf elektroniknet

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[Translate to deutsch:] Standard-compliant verification

Normgerechte Verifikation

Software für die Medizintechnik nach IEC 62304. Fachartikel von Frank Büchner.

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