Selbsttestbibliotheken für Microcontroller

Microcontroller-Selbsttestbibliotheken

Warum das Rad neu erfinden? Nutzen Sie stattdessen praxiserprobte Software-Bibliotheken und stellen Sie sicher, dass die von Ihrer Norm geforderte Silizium- und Diagnoseabdeckung mit minimalem Aufwand realisiert wird. Wir unterstützen Sie bei der Integration solcher Bibliotheken in Ihre Applikation. Die Bibliotheken sind speziell für Projekte nach IEC 61508 und ISO 26262 konzipiert. Darüber hinaus verfügen wir über umfangreiche Erfahrung im Design und der Implementierung von Klasse-B-Bibliotheken in Projekten nach IEC 60335 und IEC 60730.

Selbsttests auf eingebetteten Mikrocontrollern müssen zur Laufzeit durchgeführt werden, um sicherzustellen, dass der Mikrocontroller als zentrale Verarbeitungseinheit immer korrekt funktioniert. Selbsttestbibliotheken enthalten Funktionen wie Fehlerinjektion und Selbsttestmodi. Der Fehlerinjektionsmodus ermöglicht es der Anwendung, Fehler einzufügen und so die korrekte Funktion der Fehlerbehandlung zu überprüfen. Um latente Fehler aufzudecken, werden im Selbsttestmodus aufgerufene Selbsttestmechanismen eingesetzt.

SafeTpack

Hitex SafeTpack für AURIX™ TC3xx

Das Hitex SafeTpack ist eine Sicherheitslösung für die AURIX™ Infineon Microcontroller-Familie der zweiten Generation. Es deckt die meisten Sicherheitsanwendungsfälle für Anwendungen nach ASIL A bis ASIL D ab.

SafeTpack für AURIX
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TRAVEO II Selbsttestbibliotheken

TRAVEO II Selbsttestbibliotheken

Für die TRAVEO-Microcontroller-Familie stehen umfangreiche Selbsttestbibliotheken zur Verfügung. Diese erfüllen die von AUTOSAR vorgegebenen funktionalen Sicherheitsziele.

Traveo II Selbsttestbibliotheken
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Class B libraries

IEC 60335 Class B Bibliotheken

Auf den europäischen Markt gebrachte Haushaltsgeräte müssen den Normen IEC 60335 und IEC 60730 entsprechen. Hitex entwickelt und liefert die erforderlichen Klasse-B-Bibliotheken, um diese Standards zu erfüllen.

Class B Bibliotheken für IEC 60335 und IEC 60730
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Sicherheitsbibliothek für AURIX der ersten Generation

PRO-SIL SafeTlib

Das PRO-SIL™ SafeTlib-Paket bietet die erforderliche Siliziumabdeckung und Dokumentation zur Sicherung Ihrer Sicherheitsnachweisanwendungen auf Basis der AURIX-Gerätefamilie der ersten Generation von Infineon.

Sicherheitsbibliothek für AURIX der ersten Generation
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Arm software test libraries

Arm Test Bibliotheken

Arm-Bibliotheken sind Assembler-Routinen, die darauf ausgelegt sind, effizient alle Fehler zu identifizieren, die beim Einschalten oder während des Betriebs von Arm-basierten Prozessoren auftreten können. So wird sichergestellt, dass etwaige Probleme umgehend erkannt und behoben werden können, wodurch potentielle Systemstörungen minimiert werden.

Details zu den Arm Test Bibliotheken
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