Wir freuen uns auf die embedded world 2026 in Nürnberg! Vom 10. bis 12. März 2025 wird Hitex am Stand Nr. 205 in Halle 4 vertreten sein. Hier finden Sie unsere Messe Highlights.
embedded world: Safety, Security und Edge-AI für Embedded-Systeme
Die Hitex GmbH präsentiert vom 10. bis 12. März auf der embedded world in Nürnberg Lösungen für die Entwicklung sicherheitskritischer Embedded-Systeme. In Halle 4 – Stand 205 zeigt Hitex Live-Demos zur schnellen und sicheren Entwicklung auf Infineons…
50 Jahre Hitex: Von 8-Bit bis KI – Ein halbes Jahrhundert Embedded Excellence
Die Hitex GmbH feiert 2026 ihr 50-jähriges Bestehen. Am 20. Juli 1976 ins Handelsregister eingetragen, hat sich das Unternehmen als ein führender Anbieter für Development Tools, zertifizierte Software-Komponenten und Entwicklungs- und…
Funktional sicher mit „Proven in Use" oder „SIL by Design"?
SIL by Design vs. Proven in Use – welcher Weg zur funktionalen Sicherheit? Systematische Entwicklung oder nachträgliche Qualifizierung? Unser neuer Fachartikel in der HANSER automotive (Ausgabe 6/2025) beleuchtet beide Ansätze zur SIL-Zertifizierung…
![[Translate to deutsch:] Hitex-Webinar with Tuxera](/fileadmin/_processed_/d/4/csm_724x543_webinar-tuxera-06.2026_83c45c6ae0.jpg "[Translate to deutsch:] Hitex-Webinar with Tuxera")
![[Translate to deutsch:] Webinar: Edge AI in Safety-Critical Systems: smart & safe](/fileadmin/_processed_/2/d/csm_724x543_webinar-edge-ai_2331e60269.jpg "[Translate to deutsch:] Webinar: Edge AI in Safety-Critical Systems: smart & safe")
![[Translate to deutsch:] Hitex-Webinar with PROTOS](/fileadmin/_processed_/9/0/csm_724x543_wbnr-tuxera-11-2025_97de86f8ca.jpg "[Translate to deutsch:] Hitex-Webinar with PROTOS")
![[Translate to deutsch:] Webinar Unit Testing with TESSY](/fileadmin/_processed_/b/e/csm_Unite-Testing-Webinar-724x543_1377b9b51b.jpg "[Translate to deutsch:] Webinar Unit Testing with TESSY")
![[Translate to deutsch:] Hardware-in-the-Loop Tests with AI](/fileadmin/_processed_/d/d/csm_724x543_webinar-protos-ai_d8a4f2be2e.jpg "[Translate to deutsch:] Hardware-in-the-Loop Tests with AI")
