Neues aus der Embedded World

[Translate to deutsch:] With tool support to security

Mit Werkzeugsupport zur Security

Artikel von Frank Büchner in der Elektronik. Hier können Sie den vollständigen Artikel lesen.

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[Translate to deutsch:] Software-Unit-Verifikation with IEC 62304

Software-Unit-Verifikation in IEC 62304

Artikel von Frank Büchner in MEDengineering. Den vollständigen Artikel kostenlos lesen.

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[Translate to deutsch:] Fault Injection, Robustness Testing, and Code Mutation Testing

Fault, Robustness und Mutations

Fault Injection, Robustness Testing und Code Mutations in der ISO 26262.

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[Translate to deutsch:] BARR specifications as a guideline

BARR-Vorgaben als Richtlinien

Artikel von Frank Büchner in der ElektronikPraxis 18/2021 zu BARR-Vorgaben als Richtlinien für den Programmierstil.

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[Translate to deutsch:] Matthias Spranz is Head of Engineering at Hitex

Matthias Spranz Head of Engineering

Seit 1. September 2021 ist Matthias Spranz neuer Head of Engineering bei Hitex in Karlsruhe.

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[Translate to deutsch:] Hitex is Preferred Design House for TRAVEO

Hitex ist Preferred Design House

Hitex wurde von Infineon als Preferred Design House (PDH) für die Traveo-Familie ausgezeichnet.

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[Translate to deutsch:] Improve test case quality with mutation testing

Testfallqualität und Mutationstests

Lesen Sie einen neuen Artikel von Frank Büchner darüber, wie Mutationstests die Qualität Ihrer Testfälle bewerten.

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[Translate to deutsch:] Hitex is the exclusive distributor of Arm Keil Tools

Arm Keil Tools in den Niederlanden

Die neueste Pressemitteilung zu Arm Keil Tools von Hitex können Sie hier lesen.

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[Translate to deutsch:] Automated testing of embedded software

Automatisiertes Testen von Software

Frank Büchner erklärt, wie man die Testfallgüte problemlos prüfen kann.

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[Translate to deutsch:] Digital marketing at Hitex

Persönlicher Kontakt ist entscheidend

Stimmen Sie zu? Roland Bickel, Head of Marketing bei Hitex, im Interview mit "Elektronik Praxis".

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[Translate to deutsch:] program style

Weniger Fehler & Programmierstil

Artikel zum Thema Programmierstil und Standards. Lesen Sie hier den vollständigen Artikel.

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[Translate to deutsch:] TESSY V4.3

Neue Funktionen in TESSY V4.3

Hauptversion V4.3 von TESSY, dem Tool zum automatisierten Unit-, Modul- und Integrationstest, wurde veröffentlicht.

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[Translate to deutsch:] Structural Coverage Analysis

Strukturüberdeckungsanalyse

Fachartikel von Frank Büchner. Veröffentlichung: Elektronik automotive 10/2020.

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[Translate to deutsch:] acceptance criteria

Prüfung von Akzeptanzkriterien

Frank Büchner hat einen Artikel für MED engineering verfasst. Hier können Sie ihn lesen.

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[Translate to deutsch:] SafeTpack

SafeTpack:AURIX-Safety-Lösung

Hitex hat einen weiteren renommierten Automobil-Zulieferer von einer Unternehmenslizenz des SafeTpacks überzeugt.

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[Translate to deutsch:] ISO 13849 and ISO 26262

ISO 13849 and ISO 26262

Fachartikel von Nicolas Nahrstedt. Veröffentlicht in Design&Elektronik 7/2020.

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[Translate to deutsch:] ShieldBuddy TC375

Hitex ShieldBuddy TC375

Hitex erweitert sein Safetyportfolio und stellt ein neues AURIX™-Entwicklungsboard vor.

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ECLAIR

Werkzeug-Qualifizierung für Standards

Das statische Quellcode-Analysewerkzeug ECLAIR wird oft in sicherheits-kritischen Projekten eingesetzt.

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[Translate to deutsch:] TESSY V4.2

TESSY V4.2 mit neuen Tests

Nicht immer können Aufgaben durch Werkzeuge automatisiert erledigt werden.

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[Translate to deutsch:] Cybersecurity

Hitex and ESCRYPT: Cybersecurity

Hitex und ESCRYPT verbessern Cybersicherheit für smarte Fabriken.

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[Translate to deutsch:] PDH for TLE9180

Hitex: PDH für TLE9180 gate driver ICs

Hitex erfüllt hohe Qualitätsstandards und gewährleistet so umfassende und kompetente Beratung.

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[Translate to deutsch:] HIL tests of AURIX

HIL Tests von AURIX™-Systemen

Hitex bietet jetzt umfassende Unterstützung für Hardware-in-the-Loop (HIL)-Tests von AURIX™-basierten Systemen.

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[Translate to deutsch:] Break-out and trace adapter

Break-Out- und Trace-Adapter

Hitex Adapter für die AURIX™ Mikrocontroller-Familie der zweiten Generation.

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[Translate to deutsch:] code coverage

Irrtümer über Code-Coverage

Fachartikel von Frank Büchner. Veröffentlichung in PraxisElektronik.

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